直读光谱分析仪的使用过程中有好多分析方法，之前说过的是内标法，下面为大家讲解的是控制试样法。
 

　　光源激发条件事实上是有变化的，即使每次经过予燃以后仍如此。控制试样法主要就是用来检查光源激发的变化以及用来校正光源激发不稳定而引起的分析结果的偏差。控制样品本身从某种意义上讲就是一个标准样品，它的化学成分和状态更接近生产实际，可通过控制样品结果的变化，从而检查工作曲线有无移动。应用控制样品的目的是作快速分析，分析时，只激发一个控制样品即完成了分析任务。因为日常分析时控制样品和分析样品是在同一时间内进行的，每个样品激发二次，所得分析结果的变化，应该彼此相似。可以减少控制标样和分析样品性质状态的不一致所引起的第三元素影响或者组织结构的影响，使分析结果不准。这些影响往往只使工作曲线产生一些移动。
 

　　遇到下列三种情况时，都可以用控制试样法进行：
 

　　1、以二元合金标样作出工作曲线做复杂合金分析时。
 

　　2、以热轧状态的标样做同一牌号的合金的浇铸状态的分析任务。
 

　　3、各种牌号的合金归类用同一组标准样品作出的工作曲线进行分析。
 

　　由于控制试样法在日常分析中，用途很广，因此使用控制试样法应该注意以下问题：
 

　　1、控制样品的含量与分析样品含量愈接近愈好。
 

　　2、控制试样的钢种和牌号与分析样品接近，物理的及化学的性质与分析样品相同。
 

　　3、控制试样要有准确的分析结果，光谱的均匀性检验要好，分析结果的再现性要好